Большая Советская Энциклопедия (СТ)

Структуроме'трия фотографи'ческая, учение об измерении изобразительных свойств фотографического материала, обусловленных дискретной структурой как непроявленного слоя фотографической эмульсии, так и проявленного почернения фотографического . С. ф. зародилась в рамках сенситометрии , и такие её понятия, как разрешающая способность фотографирующей системы и зернистость почернения , долгое время относились к числу величин, исследуемых при сенситометрических испытаниях. Выделение С. ф. в самостоятельный раздел фотографической метрологии завершилось лишь к концу 60-х гг. 20 в., когда в фотографию были перенесены многие понятия общей теории связи и информации теории , а фотографический материал стали рассматривать как один из элементов систем передачи, записи и воспроизведения изображения (наряду с телевизионными, электроннооптическими и другими элементами таких систем) и описывать в терминах, общих для всех этих элементов.

  В С. ф., кроме упомянутого выше, изучают: частотно-контрастную характеристику (нередко называемую функцией передачи модуляции); гранулярность (объективно измеряемую микрофотометром неоднородность оптической плотности почернения D, обусловленную зернистостью его структуры и выражаемую средним квадратом флуктуации плотности почернения или его пропускания ), отношение сигнал/шум (отношение приращения D негатива, вызванного приращением экспозиции от объекта, т. е. «сигналом», к среднеквадратичной флуктуации D негатива, т. е. к «шуму»); спектр мощности шумов (распределение квадрата амплитуды флуктуаций D по пространственным частотам); квантовую эффективность детектирования (способность фотоматериала к выделению слабого сигнала при наличии шума; выражается частным от деления отношения сигнал/шум в полученном изображении на отношение сигнал/шум в действующем световом потоке при измерении его идеальным детектором). В С. ф. исследуют также информационные свойства фотографического материала, в частности информационную ёмкость (плотность записи в бит/ед. площади) и чувствительность информационную .

  Лит.: Вендровски К. В., Айнгорн М. А., Минкевич И. Г., «Успехи научной фотографии», 1966, т. II, с. 171—221; Миз К., Джеймс Т., Теория фотографического процесса, пер. с англ., Л., 1973.

  А. Л. Картужанский.

Структуры кристаллов

Структу'ры криста'ллов неорганических соединений, закономерное пространственное расположение атомов, ионов (иногда молекул), составляющих кристаллические вещества. Расшифровка С. к. — одна из основных задач кристаллографии .

  В большинстве неорганических соединений молекул нет и имеет место взаимное проникновение бесконечных укладок из катионов и анионов (см. Кристаллическая решётка ). Наиболее прост случай структуры, в которой примитивная кубическая решётка (см. Браве решётка ) из анионов Cl проложена аналогичной решёткой из катионов Cs; они вставлены одна в другую так, что катион Cs оказывается в центре куба из 8 анионов Cl (и наоборот), т. е. координационное число (КЧ) равно 8 (рис. 1, a). Зачастую разные вещества имеют структуры одинаковые с точностью до подобия (см. Кристаллохимия ), так, структурой CsCI обладают CsBr, CsI, а также галогениды таллия и аммония, и все эти структуры объединяются в единый структурный тип CsCI. Понятие структурный тип — один из критериев сходства или различия строения кристаллов; именуют его обычно по названию одного из веществ, кристаллизующихся в нём. Ниже даётся краткое описание некоторых важнейших структурных типов.

  В структурном типе галита NaCI и катионы, и анионы расположены по закону кубической плотнейшей упаковки (см. Упаковки плотнейшие ). Каждый катион окружен 6 анионами, и наоборот, т. е. КЧ=6. координационный многогранник — октаэдр (рис. 1,б). В структуре галита кристаллизируются почти все галогениды щелочных (LiF, LiCI,..., NaF, NaCI,..., RbF, RbCI,...) и окислы щёлочноземельных элементов (MgO, CaO и др.), важнейший сульфид PbS и др.

  В структурном типе сфалерита ZnS, построенном также на основе закона кубической плотнейшей упаковки, атомы Zn с КЧ = 4 находятся в S-тетраэдрах и наоборот. Этот тип характерен для соединений с существенно ковалентными связями; в нём кристаллизируются CuCI, Cul, HgS и др., а также ряд важнейших полупроводниковых соединений (CdS, GaAs и др.) (рис. 1,в).