В щёлочно-галогенных кристаллах обнаружены и др. более сложные собственные Ц. о. — F
-агрегатные электронные центры: F2
(или М
), F3
(или R
), F4
(или N
),
представляют собой соответственно два, три и четыре сопряжённых F
-центра (т. е. две, три или четыре анионные вакансии, захватившие 2,3,4 электрона); F2
+
, F3
+
—
ионизованные F2
-
и F3
-центры и др. Дырочные центры в щёлочно-галогенных кристаллах представлены молекулярными ионами галогена (например, Cl), захватившими дырку (т. е. отдавшими один электрон), занимающими положение двух нормальных ионов (Vk
-центр) или положение одного иона (Н-
центр), которые могут находиться в сочетании с вакансией соседнего катиона (VF
-центр) или двух катионов (Vt
-центр). Примесные Ц. о. — чужеродные атомы или ионы, внедрённые в кристалл, стекло или др. основу. В кристаллы для образования примесных Ц. о. примесь вводится в расплав или раствор в процессе кристаллизации или же путём диффузии в готовый кристалл. Примесные атомы и ионы так же, как и др. точечные дефекты, могут захватывать электрон или дырку, в результате чего изменяют полосу поглощения кристалла и его окраску. Наведённые примесные Ц. о. возникают в кристаллах и стеклах, содержащих примеси, при фотохимическом окрашивании благодаря изменению заряда примеси. В большинстве случаев ионы примеси, входящие в наведённые Ц. о., имеют валентность, отличную от ионов основы. Так, например, в кристалле KCl с примесью Tl примесный Ц. о. — ион Tl+
, а наведённые примесные Ц. о. — атомы Tl и ионы Tl2+
; в рубине (Al2
O3
с примесью Cr) примесный Ц. о. — ион Cr3+
, наведённые примесные Ц. о. — ионы Cr2+
и Cr4+
. Все наведённые Ц. о. могут быть разрушены оптически или термически. В кристаллах с примесями обнаружены также Ц. о. смешанного типа: FA
-центры и Z
-центры. Первые представляют собой F
-центры, расположенные рядом с ионом примеси (активатором), вторые (в щёлочно-галогенных кристаллах) — F
-центры, связанные с вакансиями и с двухвалентными примесными ионами (Ca, Sr). Наблюдаются также сложные примесные Ц. о., состоящие из двух или более частиц примеси одного или разных сортов. Например, в щёлочно-галогенных кристаллах обнаружены примесные Ц. о.. связанные с внедрением ионов (О-
, O2
-
, S2
-
, S3
-
, SO2
-
, PO4
2-
, CO3
2-
и др.). Ц. о. под влиянием внешних воздействий (свет, тепло, электрическое поле) могут коагулировать, образуя т. н. коллоидные центры. Ц. о., будучи центрами захвата электронов и дырок, могут служить центрами люминесценции (см. Центры свечения
).
Наиболее эффективным методом исследования Ц. о. является электронный парамагнитный резонанс
в сочетании со спектральными исследованиями, позволяющий расшифровать строение Ц. о. Окрашивание и обесцвечивание кристаллов и стекол широко применяется в научном эксперименте и в технике. Оно используется в дозиметрии
ядерных излучении, в вычислительной технике (устройства для хранения информации), в устройствах, где применяются фотохромные материалы (солнцезащитные стекла, темнеющие под действием солнечного света и просветляющиеся в темноте) и др. В археологии и геологии по исследованиям Ц. о., возникших под действием излучения радиоактивных элементов, находящихся в толще Земли, определяют возраст глиняных изделий и минералов (см. Геохронология
).
Окраска ряда драгоценных камней и самоцветов связана с Ц. о. (аметист, цитрин, алмаз, амазонит и др.). Некоторые кристаллы и стекла с примесными Ц. о. используются в качестве активной среды в лазерах (рубин, стекло с примесью Nb и др.; см. Квантовая электроника
, Лазер
).
Лит.:
Пекар С. И., Исследования по электронной теории кристаллов, М. — Л., 1951; Кац М. Л., Люминесценция и электронно-дырочные процессы в фотохимически окрашенных кристаллах щёлочно-галоидных соединений, Саратов, 1960; Physics of color centers, N. Y. — London, 1968; Townsend P. D., Kelly J. C., Colour centers and imperfections in insulators and semiconductors, L., 1973; Марфунин А. С., Спектроскопия, люминесценция и радиационные центры в минералах, М., 1975. З. Л. Моргенштерн.
Центры происхождения культурных растении