Серебристые облака и их наблюдение

Этот эффект был открыт в 1850 г., на заре развития фотографии, французским ученым П. Сабатье и состоит в следующем. Если после съемки и частичного (неполного) проявления пластинки подвергнуть светочувствительный слой равномерной засветке актиничным (т. е. действующим на данную эмульсию) светом по всей поверхности пластинки, а после этого довести проявление до конца, на фотографии образуется частично, а иногда и полностью обращенное позитивное изображение. Причиной этого является отчасти экранирование оставшихся невосстановленными после первого проявления кристаллов галоидного серебра зернами серебра первоначального (негативного) изображения, отчасти десенсибилизация (понижение чувствительности) этих кристаллов продуктами окисления проявителя. То и другое после равномерной засветки слоя приводит к возникновению в местах расположения зерен негативного изображения вторичного (позитивного) изображения.

Фотографический метод эквиденситометрии основан на использовании происходящего в результате эффекта Сабатье наложении негативного и позитивного изображений одного и того же объекта. При печатании с этой комбинации контрастного позитива на нем появляются линии равной оптической плотности почернения — эквиденситы.

Практически поступают так. Оригинальные негативы проявляют обычным образом, как было описано в § 12; после просушки с этих негативов делают контактным способом контратицы, которые и подвергаются процедуре, кратко описанной выше. Контрастирование производится на контрастные плаетинки FU-5 (если их нет в распоряжении, то на самые контрастные, какие можно достать). Время выдержки при первой экспозиции (при контрастировании) подбирается так, чтобы после первого проявления изображение самых ярких частей облаков оставалось сильно недодержанным. Тогда после второй засветки (равномерным светом) и второго проявления мы получим эквиденситы для самых слабых участков серебристых облаков, поскольку их изображение при пересъемке на контрастный позитив придется на прямолинейную часть характеристической кривой.

Для получения эквиденсит более ярких частей облачного поля увеличиваем длительность первой выдержки вдвое, переводя позитивное изображение ярких облаков из области недодержек в область нормальной экспозиции. Длительности обеих стадий проявления и второй экспозиции оставляем постоянными (рекомендуемые длительности будут приведены ниже).

Таким образом, мы будем иметь две системы эквиденсит I порядка: одну для более слабых, а другую для более ярких частей облачного поля. (В ходе дальнейшей обработки они объединяются.) При большом перепаде яркостей в облачном поле может потребоваться и третья система эквиденсит, т. е. процесс их получения повторяется трижды.

Поскольку ширина эквиденсит I порядка может быть слишком велика (это зависит от распределения яркостей и контрастов в облачном поле, а также от условий проведения самой эквиденситометрии), процесс контратипирования может быть повторен. При этом получаются эквиденситы II порядка, представляющие собой парные линии, соответствующие геометрическим местам точек равной оптической плотности по обе стороны эквидепситы I порядка. Дальше, если надо, получают таким же путем эквиденситы III порядка.

Для иллюстрации метода на рис. 52 приводим системы эквиденсит, полученные по фотографии планеты Юпитер 13–14 марта 1968 г. в Астрофизическом институте Академии наук Казахской ССР. Буквами А, В, С, D обозначены последовательные изображения но мере увеличения первой выдержки (в случае Юпитера пришлось проводить контратипирование 4 раза). Цифры 1, 2, 3 соответствуют эквиденситам I, II, III порядка.

Рис. 52.Эквиденситы Юпитера, полученные по фотографии 13–14 марта 1968 г. (вверху) в Астрофизическом институт AН КаэССР:

_{А, В, С, D — последовательные стадии контратипирования (с ростом первой экспозиции); 1, 2, 3 — эквиденситы I, II, III порядков.}

Как и в случае обычной фотографической фотометрии, описываемый метод требует проведения калибровки.

Для этого удобнее всего впечатывать на первую эквиденситограмму специальный непрерывный фотометрический клин на пленке или пластинке, который кладется рядом с негативом или накладывается на незасвеченный участок последнего (таковым практически является часть негатива с изображением земной поверхности). Эквиденситы клина обычно имеют форму цепных линий, поэтому измеряют положения эквиденсит вдоль оси симметрий этих фигур.

Непрерывный фотометрический клин нетрудно изготовить самому с помощью приспособления, описанного М. Е. Набоковым и изображенного на рис. 53.

Рис. 53.Ящик-Книга — устройство для изготовления фотометрического клина (по М. Е. Набокову). Справа — форма кривой выреза.